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XRF痕量元素分析及镀层测厚仪X-Strata980
    

厦门亿辰科技有限公司

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产品展示  

X-Strata980XRF痕量元素分析及镀层测厚仪

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公司名称:

厦门亿辰科技有限公司 
发布日期: 2008-9-3 
所 在 地: 进口 
已获点击: 662次
简单介绍:  
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和镀层厚度测量
-电子产品中金和钯镀层的厚度测量
-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
-贵金属合金分析和牌号鉴定


 
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【详细说明】

XRF痕量元素分析及镀层测厚仪(X-Strata980

创新点

100X射线管  
25mm2PIN 
探测器
 
多准直器配置
 
扫描分析及元素分布成像功能
 
灵活运用多种分析模型
 
清晰显示样品合格/不合格
 
超大样品舱
 
同时分析元素含量和镀层厚度

 

仪器介绍

运用荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量。应用于:
-
有害元素痕量分析

-
焊料合金成分分析和镀层厚度测量

-
电子产品中金和钯镀层的厚度测量

-
五金电镀、CVDPVD镀层的厚度测量

-
贵金属合金分析和牌号鉴定

 

主要特点

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
-25
平方毫米PIN探测器

-100
X射线管

-
多准直器配置

-
扫描分析及元素分布成像功能

-
灵活运用多种分析模型

-
清晰显示样品合格/不合格

-
超大样品舱

-
同时分析元素含量和镀层厚度

 

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